AMD 2003 Annual Report Download - page 199

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F18200008 Particle SFS-6400 Tokyo Electron 199408
F18200010 Analysis station KLA-2551X Tokyo Electron 199408
F18200011 Review station KLA-2608 Tokyo Electron 199408
F18200023 Film thickness FT-530/E Sumisho Electronics 199408
F18200024 X-ray fluorescence SYSTEM-3630 Rigaku 199408
F18200025 Stress FLX-2328 Innotech 199408
F18200027 Film thickness P2 Tokyo Electron 199408
F18200029 Dose monitor TP-400XP Hakuto 199408
F18200031 Microscope IM-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199408
F18200032 Microscope IM-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199408
F18200036 Film thickness P2 Tokyo Electron 199408
F18200068 Film thickness FT-700 Sumisho Electronics 199504
F18200069 Film thickness FE-IV Tokyo Electron 199505
F18200070 Microscope 1M-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199505
F18200071 Microscope 1M-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199505
F18200083 Analysis station KLA-2552 KLA 199507
F18200084 Inspection system KLA-2131 KLA 199507
F18200100 Tilt SEM JWS-7500E JEOL 199511
F18200102 Reflectance measurement FT-750 Tencor 199511
F18200103 Surfscan SFS6420 Tencor 199511
F18200104 Microscope BIN (Camera) Fujitsu Tohoku Electronics 199511
F18200112 Film thickness FE4 Tokyo Electron 199602
F18200113 Film thickness FT-750 Tencor 199602
F18200114 Resistivity mapping OMNI MAP 55 Tencor 199602
F18200115 Microscope IM-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199602
F18200116 Microscope IM-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199602
F18200117 Microscope IM-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199602
F18200118 Microscope IM-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199602
F18200119 Microscope IM-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199602
F18200120 Microscope IM-15 Daito Shoji (now Daito Electron) 199602
F18200121 SEM S-8820 Nissei Sangyo (now Hitachi High-Technologies) 199602
F18200123 SEM S-8820 Nissei Sangyo (now Hitachi High-Technologies) 199602
F18200124 Reflectance measurement FT-750 Tencor 199602
F18200127 Particle counter SFS-7700 Tencor 199602
F18200128 Wafer inspection KLA-2132 Tokyo Electron 199602
F18200129 UV transmissivity UV1050 Tencor 199602
F18200130 Review station INS2000 Dainippon Screen 199602
F18200136 Wafer inspection KLA-2112 Tokyo Electron 199603
F18200137 Wafer inspection KLA-2112 Tokyo Electron 199603
F18200138 Analysis station KLA-2552 Tokyo Electron 199603
F18200158 Film thickness FE7 Tokyo Electron 199606
F18200161 Overlay measurement KLA-5100 Tokyo Electron 199607
F18200243 Wafer inspection KLA-2115 KLA 199711
F20200001 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199408
F20200002 Microscope CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199408
F20200003 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199408
F20200004 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199408
F20200005 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199408
F20200006 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199408
F20200010 Microscope CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199408
F20200016 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199602
F20200018 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199602
F20200019 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199602
F20200020 Microscope (camera) CHIVI (BIN) Fujitsu Tohoku Electronics 199602
Source: ADVANCED MICRO DEVIC, 10-K, March 09, 2004