AMD 1993 Annual Report Download - page 320

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ATTACHMENT B
TO
JOINT DEVELOPMENT AGREEMENT
Major Items of Subject Technology
1. Process Information
A. Basic Process Data
a) Design rule
b) Transistor parameters
c) Process parameters
d) Mask sequence, etc.
B. Manufacturing Specifications
a) Process flow
b) Process conditions for each unit process, etc.
C. Process Evaluation Data
a) Reliability data on interconnection materials, etc.
2. Device Design Information for Each JV Product
A. Product Specifications
a) Catalog specification
b) Device full specification (internal specification)
c) Architectural information
B. Design Data
a) Circuits diagrams
b) Transistor-level circuits
c) Mask layout data
d) Mask layout data supplemental information
e) Test specification (wafer sort)
f) Test program (wafer sort)
C. Device Evaluation Data
a) Functional test results of samples
b) Electrical characteristics of samples
c) Reliability data of samples
d) Control parameters and their tolerance
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Source: ADVANCED MICRO DEVIC, 10-K, March 07, 1994